黃金分析儀 EXF7200--是集西凡儀器多年貴金屬檢測技術和經驗，以獨特的產品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來能滿足貴金屬成分檢測的需要，人性化的設計，使測試工作更加輕松完成。 EXF7200--貴金屬檢測儀使用高效而實用的正比計數盒探測器，（項目聯系人金先生 ①③⑤③⑧②①⑧⑤②①）以實在的價格定位，滿足貴金屬的成分檢測和鍍層厚度測量的要求，且全新的更具有現代感的外形、結構及色彩設計，加上全軟件控制的自動調整移動平臺和切換準直器的裝置，使儀器操作更人性化、更方便。 應用領域： 黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。 金屬鍍層的厚度測量和電鍍液和鍍層含量的測定。 主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。 激發源： Mo靶的X光管風冷(無輻射） 測量點尺寸：1～2mm 樣品室: 長400mm 寬:300mm 高:0～90mm樣品放大成像系統 軟件： 菜單式軟件，帶硬件參數調整和數據評估及計算 計算機： 選擇配置 檢測器： 固定式半導體封氣正比計數器微處理器控制的檢測器和讀出電路 其它規格： 電壓: 100～127或200～240V,50/60Hz 最大功率: 120W 最大處尺寸: 500mm*500mm*400mm 重量: 48kg 技術指標 分析范圍： 1%～99.99% 測量時間： 自適應 測量精度： 0.1% 測試環境： 常溫常態 分析元素： Au、Ag、Pt、Pb、Rh、Ru、Cu、Zn、Ni、Cd﹑W X射線源： X射線光管 高壓器： 4～50Kv 分析： 多通道模擬 操作系統: Windows2000/Me/XP